标签 > 存储器实验

• 存储器实验——基于STM32的非易失性存储测试

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  在本次存储器实验中，我们以STM32微控制器为核心，设计了一个针对非易失性存储器（如EEPROM）的性能测试平台。实验主要分为两个部分：首先

  2025-04-07

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